ED2000能量色散X射線熒光光譜儀

ED2000采用全數(shù)字化電子線路設(shè)計，其緊密耦合的X射線光學系統(tǒng)和Pentafet探測器專利技術(shù)實現(xiàn)了的計數(shù)率、的分辨率和的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時，檢出下限可達0.5ppm。

Pentafet專利技術(shù)克服了能量色散技術(shù)中，元素分辨能力隨計數(shù)率增高而下降的缺點，即使在較高計數(shù)情況下，仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數(shù)字化電路技術(shù)提高了信號處理速度，縮短了分析時間。ED2000的最大計數(shù)率高于50,000cps；在17,000cps計數(shù)率的情況下，分辨率優(yōu)于140eV。請點擊左邊相關(guān)標題，下載關(guān)于該產(chǎn)品的PDF格式文件。

能量色散X射線熒光光譜儀XR-306

技術(shù)規(guī)格

檢測塑膠類樣品和輕質(zhì)金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限可以達到5ppm。

檢測Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以達到100ppm, Cd的檢出限可以達到20ppm。

儀器配置

產(chǎn)品參數(shù)：

儀器型號		XR-306
分析原理		能量色散X射線熒光分析法
分析元素范圍		Na（11）-U（92）任意元素
檢出下限		Cd/Hg/Br/Cr/≤2 ppm Pb/≤5 ppm
樣品形狀		任意大小，任何不規(guī)則形狀
樣品類型		塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等
X射線管	靶材	鉬（Mo）靶
	管電壓	5─50KV
	管電流	1─1000ｕA
樣品照射直徑		2、5、8mm
探測器		美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
高壓發(fā)生器		美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
前置放大器		美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
主放大器		美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
AD轉(zhuǎn)換模塊		美國進口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國進口探測器兼容性好
ADC		2048道
濾光片		6種濾光片自動選擇并自動轉(zhuǎn)換
樣品定位		微動載物平臺（選配件）
樣品觀察		200萬彩色CCD攝像機
微區(qū)分析		X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配件）
分析軟件		專利軟件產(chǎn)品 BX-V1.5版本，終身免費升級
分析方法		理論α系數(shù)法、基本參數(shù)法、經(jīng)驗系數(shù)法
操作系統(tǒng)軟件		WINDOWS XP（正版）
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)	主機	PC商務(wù)機型
	CPU	≥2.8G
	內(nèi)存	≥512MB
	光驅(qū)	8xDVD
	硬盤	≥80G
	顯示器	17寸液晶顯示器
工作環(huán)境		溫度10－35С，濕度30－70％RH
重量		60Kg（主機部分）
外形尺寸		550（W）×450（D）×450（H）mm
外部供電電源要求		AC220±10%、50/60Hz
測定條件		大氣環(huán)境
測試樣品時間		100－300秒可調(diào)

XR-306系列特點

Ø 國家“七.五”與“九.五”熒光分析儀科技攻關(guān)的成果；

Ø 無與倫比的理論α系數(shù)法分析方法，國內(nèi)首創(chuàng)；

Ø 直接生成人性化分析報告，也可在分析軟件中定制各種風格的分析報告；

Ø 全封閉鉛板雙迷宮防輻射措施，符合國家標準；

Ø 可以分析Na-U的所有元素（需相關(guān)標準樣品）；

Ø 無需制樣，快速無損分析；

Ø 進口主要部件，穩(wěn)定性好、分析精度高、故障率低；

Ø 國產(chǎn)側(cè)窗型X光管，性能穩(wěn)定，壽命長（5年）更換成本低；

Ø 全中文操作分析軟件，對操作人員要求不高；

Ø 功能強大的分析管理軟件，方便查詢歷史數(shù)據(jù)；

Ø 自動轉(zhuǎn)換濾光片系統(tǒng)，國內(nèi)首創(chuàng)；

Ø 分析不同類型樣品參數(shù)自動設(shè)定，無需人員操作；

Ø 130倍彩色CCD攝像機可隨時監(jiān)控樣品測量位置；

Ø 的微動載物平臺可以微調(diào)樣品測量點（選配）；

Ø 的X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)可以分析電子元器件微小部位（選配）；

Ø 美國進口電制冷探測器，無需添加液氮，操作維護簡單。

Ø 可測量涂鍍層厚度。

² 儀器核心部件采用美國Amptek公司生產(chǎn)的X-123系統(tǒng)，集成了Si-PIN高分辨率半導體X射線探測器、高性能放大和整形電路、數(shù)字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA，最大限度地發(fā)揮探測器的性能。

² X射線管高壓發(fā)生器采用美國Spellman公司生產(chǎn)的50W高壓電源，性能指標，為儀器的運行提供了保障。

² 采用專業(yè)廠家生產(chǎn)的薄鈹窗X射線管，功率達50W，專業(yè)化封裝，輻射安全和各項性能指標滿足應(yīng)用要求。

² 配置多種經(jīng)過精心設(shè)計的濾光片，使得XR-306型X射線熒光能譜儀不僅分析塑膠材料中的有害物質(zhì)時可以達到非常高的精度，同時，分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質(zhì)也可以達到很好的精度。

² 濾光片自動轉(zhuǎn)換讓操作人員無需掌握深入的理論即可進行的測量。

² 推拉式開蓋方式結(jié)合開放式樣品腔設(shè)計地解決了超大樣品的檢測問題，做到小樣品測試安全方便，大樣品測試只要按系統(tǒng)提示操作同樣能操作人員安全。

² 精心設(shè)計的應(yīng)用程序不僅可以使用戶方便的檢測，還提供非常漂亮的檢測報告，對用戶開放報告格式定制功能，無論何種格式的報告都可以定制。此外還提供了數(shù)據(jù)輸出到Excel表格的功能，方便用戶進行統(tǒng)計分析。

² 高清晰度攝像頭的設(shè)置不僅使檢測報告圖文并茂，結(jié)合所配備的多孔經(jīng)準直器還可以對不均勻樣品進行定點檢測。

Ø 開放式的軟件設(shè)計，出廠前已配置了常用材料的分析方法，用戶經(jīng)過培訓以后也可以建立自己的分析方法，拓展儀器的使用范圍，如其他微量元素的分析和鍍層測厚。

Lab-X3500X湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石臺式能量色散X射線熒光光譜儀

2000年8月，在Lab-X3000取得巨大成功的基礎(chǔ)上，牛津儀器公司推出最新型的臺式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來設(shè)計生產(chǎn)X射線熒光光譜儀的經(jīng)驗和最新的硬件、軟件技術(shù)的進展結(jié)合起來，是一種獨特的、高性能的多元素臺式X射線熒光光譜儀。

Lab-X3500中采用了牛津獨特的FOCUS 5專利技術(shù)，實現(xiàn)了對目標元素的最佳激發(fā)和目標元素的選擇性檢測；因而，與同類型儀器相比，Lab-X3500具有更低的檢出下限和更高的分析精度，同時具有樣品處理簡化、容易操作等優(yōu)點。Lab-X3500 即可獨立操作使用，又能與電腦相聯(lián)。新的軟件可以顯示光譜，可以顯示質(zhì)控檢查的曲線圖并能保存校準資料。

Lab-X3500 在許多工業(yè)過程中，為質(zhì)量管理提供了最經(jīng)濟實用的元素分析手段。目前有幾千臺Lab-X3000光譜儀應(yīng)用于水泥、石油、塑料、化工、纖維和造紙等工業(yè)領(lǐng)域，承擔著重要的日常質(zhì)量控制工作。它能快速分析多種原料，包括固體、液體、潤滑油、薄膜、涂層以及糊劑等。Lab-X3500 滿足現(xiàn)行的有關(guān)國際標準分析方法的要求，如ASTM D4294、IP336、ISO8754、IP352等。

牛津儀器新推出的高精度臺式X射線熒光分析儀，無需氦氣即可分析油品中的硫（S）、氯（Cl）。

Lab-X3500SCl利用新技術(shù)測量油品中的硫下限低至3ppm （mg/kg），主要特點有：

容易檢測低含量硫、氯
出廠前校準，用戶使用前無需再校準
無需氦氣
安裝簡單，只需系統(tǒng)供電
操作不受周圍環(huán)境變化影響
樣品溫度不會影響檢測結(jié)果

Lab-X3500SCl符合下列標準規(guī)格：

ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294和IP336

日常操作簡便：只需放入樣品，啟動按鈕，結(jié)果幾秒種內(nèi)顯示。

該公司產(chǎn)品分類：德國馬爾Mahr 粗糙度儀材料試驗無損測量光譜儀光度計圓度儀、粗糙度儀影像測量儀、投影儀顯微鏡三坐標測量機分析儀器長度計量光學儀器

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ED2000能量色散X射線熒光光譜儀

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