測(cè)試方法:借助于氣體吸附原理,靜態(tài)真空容量法。 測(cè)量范圍:比表面積0.0005m2/g(氪氣吸附)至無(wú)上限?讖椒治龇秶0.35nm-500nm。測(cè)量精度:重復(fù)性誤差〈±0.1%主機(jī)功能:借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)bet比表面積。langmuir比表面積測(cè)定。bjh介孔、大孔分析。bet比表面積測(cè)定。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。mp法微孔分析?梢陨(jí)可進(jìn)行dft密度函數(shù)理論;包括nldft理論等。(注:可以
更新時(shí)間:2025-11-02