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比表面分析儀產(chǎn)品及廠家

  蘇州太陽能表面檢測(cè)系統(tǒng)
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù),結(jié)合ccd的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞,再將物鏡垂直移動(dòng),以類似斷層攝影方式,可在短時(shí)間內(nèi)(約幾秒)量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式,不會(huì)破壞樣品的表面,不需要在真空環(huán)境下測(cè)量,也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本,其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測(cè)量漸變較大的高度時(shí),跟其他方法相比,可以更量測(cè)物體高度,建立3d立體影像,優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。
更新時(shí)間:2025-06-24
  蘇州太陽能表面檢測(cè)系統(tǒng)直銷
led光源:λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測(cè)量時(shí)間:2~10秒 測(cè)量原理:非接觸、共聚焦 x/y方向:平臺(tái)移動(dòng)范圍200mmx200mm,馬達(dá)驅(qū)動(dòng),zui大移動(dòng)速度40 mm/s,x/y方向分辨率:0.3μm
更新時(shí)間:2025-06-24
  蘇州曼戈斐太陽能表面檢測(cè)系統(tǒng)
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù),結(jié)合ccd的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞,再將物鏡垂直移動(dòng),以類似斷層攝影方式,可在短時(shí)間內(nèi)(約幾秒)量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式,不會(huì)破壞樣品的表面,不需要在真空環(huán)境下測(cè)量,也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本,其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測(cè)量漸變較大的高度時(shí),跟其他方法相比,可以更量測(cè)物體高度,建立3d立體影像,優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。
更新時(shí)間:2025-06-24
  蘇州太陽能表面檢測(cè)系統(tǒng)低價(jià)促銷
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù),結(jié)合ccd的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞,再將物鏡垂直移動(dòng),以類似斷層攝影方式,可在短時(shí)間內(nèi)(約幾秒)量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式,不會(huì)破壞樣品的表面,不需要在真空環(huán)境下測(cè)量,也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本,其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測(cè)量漸變較大的高度時(shí),跟其他方法相比,可以更量測(cè)物體高度,建立3d立體影像,優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。
更新時(shí)間:2025-06-24
  曼戈斐太陽能表面檢測(cè)系統(tǒng)
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù),結(jié)合ccd的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測(cè)器的孔洞,再將物鏡垂直移動(dòng),以類似斷層攝影方式,可在短時(shí)間內(nèi)(約幾秒)量測(cè)物體的三維數(shù)據(jù)。其測(cè)量方式是非接觸式,不會(huì)破壞樣品的表面,不需要在真空環(huán)境下測(cè)量,也可以用顯微鏡測(cè)量的功能來觀測(cè)樣本,其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測(cè)量漸變較大的高度時(shí),跟其他方法相比,可以更量測(cè)物體高度,建立3d立體影像,優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯。
更新時(shí)間:2025-06-24
AOP  模塊化表面三維測(cè)量解決方案
當(dāng)面臨各種定制的測(cè)量需求時(shí),aop模塊化表面三維測(cè)量系統(tǒng)更具有靈活性的模塊化solaris解決方案。根據(jù)不同需要,aop系統(tǒng)可以配備不同的3d測(cè)量傳感器、多種尺寸的運(yùn)動(dòng)平臺(tái)以及定制化軟件。其靈活性體現(xiàn)在能夠支持各種應(yīng)用和不同工作環(huán)境,并且可以依據(jù)客戶的需求深度定制。
更新時(shí)間:2025-06-24
TriStarIIPlus藥用輔料比表面積檢測(cè)
tristar ii plus藥用輔料比表面積檢測(cè)多用途/多通道/占地面積小tristar ii plus藥用輔料比表面積檢測(cè)是全自動(dòng)化且含三個(gè)分析站的比表面積和孔隙度分析儀,具有的性能和分析速度。tristar ii plus藥用輔料
更新時(shí)間:2025-06-24
Flowsorb III系列流動(dòng)氣體法自動(dòng)比表面積分析儀
采用流動(dòng)氣體法測(cè)試比表面積,儀器在大氣壓力下用持續(xù)流動(dòng)的吸附氣體與惰性氣體的混合氣進(jìn)行測(cè)試。儀器提供單點(diǎn)以及多點(diǎn)的bet比表面積和總孔體積分析,測(cè)量速度快,測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
更新時(shí)間:2025-06-24
ASAP2020Plus快速比表面與孔隙率分析儀
asap 2020 plus 系列快速比表面與孔隙率分析儀設(shè)計(jì)精密、操作直觀、研究級(jí)分析結(jié)果asap 2020 plus 系列快速比表面與孔隙率分析儀功能強(qiáng)大、應(yīng)用廣泛,能夠提供高質(zhì)量的比表面、孔隙度和化學(xué)吸附等溫線數(shù)據(jù),以滿足材料分析實(shí)
更新時(shí)間:2025-06-24
TriStarIIPlus麥克比表面積測(cè)定儀
麥克比表面積測(cè)定儀tristar ii plus 多用途/多通道/占地面積小麥克比表面積測(cè)定儀tristar ii plus是全自動(dòng)化且含三個(gè)分析站的比表面積和孔隙度分析儀,具有的性能和分析速度。tristar ii plus
更新時(shí)間:2025-06-24
ASAP2460比表面積和孔隙度分析儀
asap 2460 比表面積和孔隙度分析儀asap 2460 比表面與孔隙度分析儀采用獨(dú)特的模塊化系統(tǒng),性能,可實(shí)現(xiàn)高通量測(cè)試。asap 2460 基本配置是一個(gè)雙站的主控模塊,當(dāng)另外連接雙站模塊后可擴(kuò)展成四站或者六站分析儀,從而實(shí)現(xiàn)多
更新時(shí)間:2025-06-24
FlowsorbIII流動(dòng)法比表面分析儀
flowsorbiii流動(dòng)法比表面分析儀flowsorbiii2305-2310系列流動(dòng)法比表面分析儀l 超穩(wěn)定的檢測(cè)器,消除漂移現(xiàn)象,無需頻繁調(diào)整l 冷阱位于儀器前方,降低誤操作導(dǎo)致其破碎的幾率l 單
更新時(shí)間:2025-06-24
Gemini2390比表面測(cè)試儀
geminivii2390全自動(dòng)快速比表面積與孔隙度分析儀 比表面積和孔隙度是影響許多材料和產(chǎn)品的質(zhì)量和用途的兩個(gè)重要的物理性質(zhì),因此測(cè)定、嚴(yán)格控制這些性質(zhì)非常重要。同樣,了解天然材料的比表面積和孔隙度是理解其構(gòu)成、結(jié)構(gòu)和潛在
更新時(shí)間:2025-06-24
3Flex藥品比表面積分析儀
3flex藥品比表面積分析儀 3flex藥品比表面積分析儀簡介 作為材料物性表征領(lǐng)域的儀器,3flex全功能多用藥品比表面積分析儀可提供高精度的吸附和脫附等溫線數(shù)據(jù),為從基礎(chǔ)研究到方法驗(yàn)證再到過程改進(jìn)整個(gè)過程提供強(qiáng)大
更新時(shí)間:2025-06-24
GeminiVII2390系列全自動(dòng)快速比表面及孔隙度分析儀
gemini vii 2390全自動(dòng)快速比表面積與孔隙度分析儀 麥克儀器公司gemini vii 2390系列比表面積分析儀可快速、地得到和可重復(fù)的比表面積和孔隙度的分析結(jié)果。其成本低、快速、、簡單易用,有很好的性和耐用性
更新時(shí)間:2025-06-24
FlowsorbIII系列流動(dòng)氣體法自動(dòng)比表面積分析儀
flowsorb iii 2305-2310流動(dòng)氣體法自動(dòng)比表面積分析儀•  儀器與配件報(bào)價(jià)  •      •  收費(fèi)測(cè)樣  
更新時(shí)間:2025-06-24
TriStarIIplus系列高性能多通道全自動(dòng)比表面與孔隙度分析儀
高性能多通道全自動(dòng)比表面與孔隙度分析儀tristar ii plus系列tristar ii plus系列硬件優(yōu)勢(shì)和軟件特點(diǎn)l獨(dú)特的耐腐蝕不銹鋼歧管設(shè)計(jì),可用于高精度的氣體管理l杜瓦瓶設(shè)計(jì),提供高達(dá)40h的連續(xù)溫度控制l可選氪氣選配,用
更新時(shí)間:2025-06-24
ASAP2425系列多站式全自動(dòng)比表面與孔隙分析儀
asap 2425多站式 全自動(dòng)比表面與孔隙分析儀asap 2425 的高通量多站式全自動(dòng)比表面與孔隙分析儀多站式全自動(dòng)比表面與孔隙分析儀是影響材料質(zhì)量和用途的兩個(gè)重要物理性質(zhì),因此測(cè)量以及控制這些參數(shù)非常重要。此外,多站式全自動(dòng)比
更新時(shí)間:2025-06-24
勃氏比表面積儀
勃氏比表面積儀粉料層體積的測(cè)定:將二片濾紙沿筒壁放入透氣筒內(nèi),用推桿的大端往下按,直到濾紙平正地放在穿孔板上,然后裝滿水銀,用一薄玻璃板輕壓水銀表面,使水銀表面與園筒上口平齊,從圓筒中倒出水銀稱重,記錄水銀的質(zhì)量p1。
更新時(shí)間:2025-06-24
感應(yīng)水龍頭 洗手間智能水龍頭 自動(dòng)水龍頭
水龍頭、感應(yīng)水龍頭、自動(dòng)感應(yīng)水龍頭、自動(dòng)水龍頭、全自動(dòng)感應(yīng)水龍頭、智能水龍頭
更新時(shí)間:2025-06-24
自動(dòng)干手機(jī)、自動(dòng)干手器、自動(dòng)烘手機(jī)、自動(dòng)烘手器、自動(dòng)烘干機(jī)
自動(dòng)干手機(jī)、自動(dòng)干手器、自動(dòng)烘手機(jī)、自動(dòng)烘手器、自動(dòng)烘干機(jī)
更新時(shí)間:2025-06-24
全自動(dòng)烘手器、全自動(dòng)感應(yīng)干手機(jī)、全自動(dòng)感應(yīng)干手器、全自動(dòng)感應(yīng)烘手機(jī)
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更新時(shí)間:2025-06-24
高速感應(yīng)干手器、高速感應(yīng)烘手機(jī)、高速感應(yīng)烘手器、高速感應(yīng)烘干機(jī)
u形干手機(jī),u形插入式干手機(jī),噴氣干手機(jī)、噴氣干手器、噴氣烘手機(jī)、噴氣烘手器、噴氣感應(yīng)干手機(jī)、噴氣感應(yīng)干手器、噴氣感應(yīng)烘手機(jī)、噴氣感應(yīng)烘手器、噴氣式干手機(jī)、噴氣式干手器、噴氣式烘手機(jī)
更新時(shí)間:2025-06-24
酒店干手器、酒店烘手機(jī)、酒店烘手器、酒店感應(yīng)干手機(jī)、酒店感應(yīng)干手器
干手機(jī)、干手器、烘手機(jī)、烘手器、烘干機(jī)、烘干器、感應(yīng)干手機(jī)、感應(yīng)干手器、感應(yīng)烘手機(jī)、感應(yīng)烘手器、感應(yīng)烘干機(jī)、感應(yīng)烘干器、自動(dòng)干手機(jī)、自動(dòng)干手器、自動(dòng)烘手機(jī)、自動(dòng)烘手器、自動(dòng)烘干機(jī)、自動(dòng)烘干器、自動(dòng)感應(yīng)干手機(jī)、自動(dòng)感應(yīng)干手器、自動(dòng)感應(yīng)烘手機(jī)、自動(dòng)感應(yīng)烘手器、全自動(dòng)干手機(jī)、全自動(dòng)干手器、全自動(dòng)烘手機(jī)、全自動(dòng)烘手器
更新時(shí)間:2025-06-24
JW-BK2322孔隙率和比表面分析儀
專業(yè)生產(chǎn)靜態(tài)法孔隙度測(cè)定儀,bet比表面儀,比表面測(cè)試儀,比表面測(cè)定儀,比表面測(cè)試,比表面測(cè)定儀,比表面積測(cè)試,比表面積及孔徑分布測(cè)試,孔徑分析儀,孔徑分布測(cè)試,比表面積及孔徑分布測(cè)試儀,比表面測(cè)試儀全自動(dòng)化孔徑分析儀,比表面積儀,孔容積測(cè)定儀,孔徑分布檢測(cè)儀,孔徑分布測(cè)量儀,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率檢測(cè)儀, 孔隙率測(cè)量儀,孔容測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)分析儀,孔徑測(cè)定儀,孔隙度檢測(cè)儀,孔隙度測(cè)量儀,總孔體積測(cè)量儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)試儀,孔容分析儀,孔體積測(cè)定儀,孔隙度測(cè)試儀,平均孔徑檢測(cè)儀,平均孔徑測(cè)定儀靜態(tài)法孔隙度測(cè)定儀(靜態(tài)容量法)是北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司獨(dú)自開發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造與銷售的儀器,本公司有靜態(tài)容量法和動(dòng)態(tài)色譜法兩大類六種型號(hào),靜態(tài)容量法孔隙率測(cè)量儀是與國外同類產(chǎn)品相同質(zhì)量和功能的儀器。靜態(tài)容量法孔隙率測(cè)量儀在國外普遍采用,jw-bk和jw-rb為本公司獨(dú)創(chuàng)的靜態(tài)容量法比表面積及孔隙率測(cè)量儀,性能達(dá)到國外同類水平,深受國內(nèi)用戶歡迎。國內(nèi)知名院校應(yīng)用,如北大深圳研究生院、北京中醫(yī)藥大學(xué)、華東理工大學(xué)、江南大學(xué)、渭南師范學(xué)院、凱迪股份有限公司等等;
更新時(shí)間:2025-06-23
比表面測(cè)定儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
電池材料BET比表面積儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
纖維比表面測(cè)試儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
碳酸鈣比表面積
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
氧化鋅比表面分析儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
氧化硅比表面積測(cè)試儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
氧化鋁比表面積分析儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
氧化鋯BET比表面測(cè)定
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
鈷酸鋰比表面積分析儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
錳酸鋰比表面
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
催化劑比表面積儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
礦物粉比表面儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
氮吸附比表面儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
比表面資料下載
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更新時(shí)間:2025-06-23
比表面
專業(yè)研發(fā)磷酸鐵鋰比表面儀,陶瓷bet比表面積儀,活性炭比表面及孔徑分析儀,白炭黑孔徑分析儀,電池材料孔徑分布測(cè)定儀,鎳鈷酸鋰孔容積測(cè)定儀,催化劑孔隙率測(cè)定儀
更新時(shí)間:2025-06-23
比表面儀
專業(yè)研發(fā)磷酸鐵鋰比表面儀,陶瓷bet比表面積儀,活性炭比表面及孔徑分析儀,白炭黑孔徑分析儀,電池材料孔徑分布測(cè)定儀,鎳鈷酸鋰孔容積測(cè)定儀,催化劑孔隙率測(cè)定儀
更新時(shí)間:2025-06-23
比表面測(cè)定儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
更新時(shí)間:2025-06-23
比表面
專業(yè)研發(fā)比表面,比表面積,比表面積儀,比表面測(cè)定儀,比表面及孔徑分析儀,比表面積分析儀,孔徑分析儀,孔徑分布,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率分析儀,孔隙度分析儀,比表面及孔隙率測(cè)定儀,孔容測(cè)定儀,物理吸附儀
更新時(shí)間:2025-06-23
比表面積測(cè)定儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
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比表面積分析儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
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比表面測(cè)試 磷酸鐵鋰
比表面測(cè)試 磷酸鐵鋰專業(yè)研發(fā)比表面,比表面積,比表面積儀,比表面測(cè)定儀,比表面及孔徑分析儀,比表面積分析儀,孔徑分析儀,孔徑分布,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率分析儀,孔隙度分析儀,比表面及孔隙率測(cè)定儀,孔容測(cè)定儀,物理吸附儀精微高博是一家以研發(fā),生產(chǎn)及銷售比表面分析儀器檢測(cè)儀器的具有地位的公司
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比表面儀
精微高博是比表面積測(cè)定儀權(quán)威的廠商,精微高博比表面積測(cè)定儀一并榮獲中國計(jì)量院測(cè)試證書,iso9001認(rèn)證及ce認(rèn)證并且還有的專利產(chǎn)品是通過高新技術(shù)企業(yè)
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比表面儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
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比表面
比表面積測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)比表面積測(cè)定儀原理方法: 低溫氮吸附,靜態(tài)容量法比表面積測(cè)定儀吸附氣體: 高純氮?dú)?,也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體比表面積測(cè)定儀極限真空: 4 - 6.7×10-2pa ( 3- 5×10-4 torr)比表面積測(cè)定儀氮?dú)夥謮海? 4×10-5 – 0.995比表面積測(cè)定儀控制精度: 測(cè)試壓力點(diǎn)最小控制間隔可小于0.1 kpa (0.75 torr) ,可測(cè)上千個(gè)點(diǎn)。比表面積測(cè)定儀測(cè)試范圍: 比表面 ≥ 0.01 m2/g,無規(guī)定上限 孔徑 0.35 - 400 nm比表面積測(cè)定儀測(cè)試精度: ≤±2%比表面積測(cè)定儀測(cè)試效率: 多點(diǎn)bet比表面每樣平均20min 孔徑分析時(shí)間隨不同材質(zhì)各異比表面積測(cè)定儀預(yù) 處 理: 兩樣品同位處理,溫度50-400℃,±1℃比表面積測(cè)定儀專用軟件: bet(單點(diǎn)、多點(diǎn))、langmuir、bjh、t-p
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比表面積儀
產(chǎn)品主要進(jìn)行比表面,比表面積,比表面測(cè)定,真密度,真密度測(cè)試,比表面積測(cè)試,比表面積測(cè)定,比表面及孔徑分析,比表面積分析,孔徑分析,孔徑分布,孔隙率測(cè)定,孔隙率分析,孔隙度分析,比表面及孔隙率測(cè)定,孔容測(cè)試等。
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最新產(chǎn)品

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