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LX-9831電壓降測(cè)試儀使用說明書
功能概述:電壓降綜合測(cè)試儀為瑞柯儀器公司開發(fā),是目前行業(yè)中功能和技術(shù)較先進(jìn)之品,與國際同行產(chǎn)品較一致性,采用ad芯片控制技術(shù)及先進(jìn)的電源設(shè)計(jì)控制技術(shù),確保產(chǎn)品在測(cè)量過程中恒流、恒壓供給;有可調(diào)節(jié)之電流和電壓輸出兩種測(cè)試方式;
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
寧波瑞柯微智能科技有限公司
FT-03A浙江膏體電阻率測(cè)定裝置
本裝置適用于膏體材料、絕緣粉末、顆粒物及其他相關(guān)特性物料電阻測(cè)量輔助裝置。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
寧波瑞柯微智能科技有限公司
LX-9830D廣東多功能電壓降測(cè)試儀操作技術(shù)
多功能電壓降測(cè)試儀采用高端工業(yè)自動(dòng)化測(cè)控技術(shù)結(jié)合高精度ad芯片;使用標(biāo)準(zhǔn)4.3寸液晶顯示器;所有數(shù)據(jù)輸入采用薄膜按鍵設(shè)定,在測(cè)試時(shí)可以通過設(shè)定電壓降上、下限及測(cè)試時(shí)間來確保產(chǎn)品測(cè)試的準(zhǔn)確性及嚴(yán)格性。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
寧波瑞柯微智能科技有限公司
FT-701海南電炭制品電阻率測(cè)試儀新品
本儀器采用直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路及高精度芯片控制,大液晶顯示屏幕更加直觀,直讀電阻,電壓降,電阻率,高精度的測(cè)試量程;各類參數(shù)和功能設(shè)定通過薄膜面板實(shí)現(xiàn),人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理,提供usb、232、485通訊接口;可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
寧波瑞柯微智能科技有限公司
英國PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測(cè)量中經(jīng)濟(jì)實(shí)用,使用簡(jiǎn)單,性價(jià)比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu):纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán),讓您輕而易舉地與實(shí)際測(cè)量對(duì)象相連接。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司
英國PEM交流電流探頭RCTi系列
rcti是工業(yè)級(jí)專用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線圈輸出實(shí)時(shí)的與測(cè)量電流相對(duì)應(yīng)的電壓。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司
英國PEM 低頻羅氏線圈LFR
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測(cè)試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差,超寬的頻帶范圍,使其可以測(cè)量被測(cè)信號(hào)的400次諧波(@45/65hz)。 低頻羅氏線圈--lfr對(duì)電流幅度的響應(yīng)曲線,有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔,使其有著更寬的動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍.
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司
F-52美國FCC電流鉗
特別高效的電流鉗(耦合系數(shù)小于7db),產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放,比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率,內(nèi)徑40mm,完全符合iec61000-4-6(gb/t 17626.6)的要求。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司
F-120-1美國FCC電流探頭
低頻脈沖注入型號(hào)為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測(cè)探頭,這些探頭能感應(yīng)耦合上升時(shí)間為 5ns 及半個(gè)脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號(hào),當(dāng)用于監(jiān)測(cè)探頭時(shí)可用頻率范圍:10 khz to 200 mhz,轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司
美國Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器(ct)提供準(zhǔn)確,無損(非接觸)的單或重復(fù)單或雙的測(cè)量 脈沖或連續(xù)波。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司
德國PTL五檔可調(diào)彈簧沖擊錘
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
PTL溫升測(cè)試角進(jìn)口測(cè)試角
ptl溫升測(cè)試角,進(jìn)口測(cè)試角,ptl溫度測(cè)試角,p06系列測(cè)試角
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
德國PTL插頭力矩試驗(yàn)儀
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
62600德國PTI表面粗糙度測(cè)試儀62600
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
德國PTL試驗(yàn)彎指
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
SGH-1實(shí)驗(yàn)裝置
ssgh-1型牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:1、觀測(cè)牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象2、用牛頓環(huán)測(cè)量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數(shù):編號(hào)名稱規(guī)格件數(shù)1鈉燈低壓鈉燈,功率20w1套2低壓鈉燈電源220v,50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京菁美瑞科技有限公司
YYU-25電子引伸計(jì)
yyu-25/100電子引伸計(jì)引伸計(jì)結(jié)構(gòu)及工作原理 :應(yīng)變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標(biāo)距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測(cè)量變形時(shí), 將引伸計(jì)裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京菁美瑞科技有限公司
IIA(B)顯微鏡
iia(b)型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器,具有較長(zhǎng)的工作距離,寬闊的視野,較好的成像質(zhì)量,以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡(jiǎn)單,使用方便,可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京菁美瑞科技有限公司
IA(B)顯微鏡
ia(b)型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器,具有較長(zhǎng)的工作距離,寬闊的視野,較好的成像質(zhì)量,以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡(jiǎn)單,使用方便,可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析、
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京菁美瑞科技有限公司
MI2127測(cè)試儀
德國美翠mi2127精密接地電阻測(cè)試儀/土壤電阻率儀(二、三、四線法測(cè)量接地電阻和土壤電阻率) 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來測(cè)量接地電阻,可用二、三、四線法,可測(cè)量
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京菁美瑞科技有限公司
AXD610微壓計(jì)
axd610、axd620微壓計(jì)(美國alnor)儀器介紹:axd610和620微壓計(jì)使您在hvac的壓力測(cè)試更加簡(jiǎn)單。這些結(jié)實(shí)耐用的儀器可以使用皮托管測(cè)量風(fēng)管內(nèi)風(fēng)速。axd610手持式數(shù)
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京菁美瑞科技有限公司
XF802-UT冷庫防寒背帶褲
藏 青色冷庫防寒背帶褲,聚酰胺滌綸/棉制面料,折縫式接縫,內(nèi)部襯里為內(nèi)部為dupont填充物,內(nèi)部垂直絎縫間距12到15厘米,從服裝外部看不見接縫, 和服裝同長(zhǎng)的雙拉鏈頭拉鏈
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京百萬電子科技有限公司
JC506-BM-2斑馬法檢測(cè)儀
jc506-bm-2型斑馬法檢測(cè)儀是依據(jù)中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)gb11614-1999的技術(shù)要求而設(shè)計(jì)制造,用于檢測(cè)浮法玻璃的光學(xué)變形角(斑馬角)的測(cè)試儀器
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京百萬電子科技有限公司
JC502-FZT-1全自動(dòng)浮法玻璃斑馬角測(cè)試儀 玻璃斑馬角檢測(cè)儀 玻璃斑馬角測(cè)試儀
工作環(huán)境應(yīng)清潔,光線較暗,無陽光直射,工作時(shí)室內(nèi)環(huán)境應(yīng)不隨外界環(huán)境變化變化,無灰塵,無烈振動(dòng)。
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京百萬電子科技有限公司
XF802-Y320數(shù)字雜音計(jì)
xf802-y320數(shù)字雜音計(jì),主要用于程控交換機(jī)電源,電話加權(quán)雜音電壓的測(cè)量。本儀表符合*電信聯(lián)合會(huì)(itu)建議的電話加權(quán)網(wǎng)絡(luò)雜音測(cè)試要求,并以*的數(shù)字信號(hào)處理方式來測(cè)量雜音
更新時(shí)間:
2025-10-21
該公司產(chǎn)品分類:
北京百萬電子科技有限公司
7405ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
ESD測(cè)試儀Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上,中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號(hào)相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
更新時(shí)間:
2025-10-20
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北京淼森波信息技術(shù)有限公司
控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開始接收 response。
更新時(shí)間:
2025-10-20
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北京淼森波信息技術(shù)有限公司
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開始接收 response。
更新時(shí)間:
2025-10-20
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北京淼森波信息技術(shù)有限公司
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試
clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:
2025-10-20
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北京淼森波信息技術(shù)有限公司
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時(shí)間:
2025-10-20
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北京淼森波信息技術(shù)有限公司
I復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測(cè)試過程(bus testing procedure),測(cè)試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:
2025-10-20
該公司產(chǎn)品分類:
北京淼森波信息技術(shù)有限公司
SD-21陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀SD-21
陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀sd-21用于測(cè)量陰極電位溢出,從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω,在某些地形(比如花崗巖)上輸入阻抗可以被精確無誤的測(cè)量出來。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:
2025-10-20
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北京瑞景上智環(huán)保技術(shù)有限公司
EMMC 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
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2025-10-20
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北京淼森波信息技術(shù)有限公司
EMMC 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
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2025-10-20
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EMMC 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
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pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
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2025-10-20
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pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào),其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路,另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
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2025-10-20
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Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號(hào)幅度越來越低,對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
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2025-10-20
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