其他產品及廠家
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-10-20
陰極保護監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預防埋地燃氣管道的腐蝕。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設備電壓、電流、接地電阻、頻率的設備。
更新時間:2025-10-20
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-10-20
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-10-20
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-10-20
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-10-20
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-10-20
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-10-20
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-10-20
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發(fā)現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-10-20
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-10-20
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-10-20
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-10-20
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-10-20
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-10-20
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-10-20
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-10-20
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-10-20
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-10-20
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-10-20
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-10-20
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-10-20
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-10-20
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-10-20
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-10-20
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-10-20
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-10-20
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-10-20
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生
更新時間:2025-10-20
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-10-20
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-10-20
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-10-20
mipi眼圖 數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-10-20
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產，可以及時避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經濟損失。
更新時間:2025-10-20
lscg leak-seeker提高了可燃氣體檢漏儀的標準，使其成為暖通空調人員定位和查明泄漏的工具。lscg幫助您確保沒有危險的泄漏，因此您可以保持。先可燃氣體泄漏檢測儀大型背光lcd顯示屏可獲得讀
更新時間:2025-10-20
量程：200μt,分辨率0.01μt(地球磁場約35μt) 設有標準磁場校準。測量環(huán)境磁場、監(jiān)視空運包裹、測量地球矢量磁場、評估磁屏蔽間效果、教學演示。
更新時間:2025-10-20
英國 seaword solar survey200r 太陽輻照計 特價符合iec 62446標準的輻照度測量內置羅盤和傾角儀測量方位和俯仰的屋雙通道溫度測量可與pv150太陽能安裝測試儀無線連接（可單獨）內置數據記錄器和usb接口適用于光伏發(fā)電和太陽能熱發(fā)電裝置
更新時間:2025-10-15
1、防風罩是根據國家標準gb7000.1-2007（iec60598-1：2003）附錄d“防風罩”測試要求而設計制造的。2、防風罩適用于燈具產品檢測機構及工廠品管部門提供燈具產品溫度測量的標準環(huán)境。
更新時間:2025-10-15
符合gb/t2099.1-2021標準第10.5章節(jié)及圖9、圖 10、iec884-1.2002圖9及圖10要求，一套2件
更新時間:2025-10-15
ls-qxz農業(yè)自動氣象站一、產品概述：ls-qxz全球定位數字高精度自動氣象站是按照國際氣象組織（wmo）氣象觀測標準設計、生產的標準氣象站。所有氣象傳感器指標均滿足中華人民共和國氣象行業(yè)標準（標準號：qx/t1-2000）是目前為止同行業(yè)中觀測要素最全、功能最為強大的數字高精度自動氣象站。同時，也是最先實現全球定位功能的自動氣象站。
更新時間:2025-10-15
腳型測量儀 足部檢測 鴻泰盛 快速定制鞋墊 同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態(tài)進行分析與評估，根據分析數據，了解用戶的足部現狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時，系統(tǒng)采用的加熱定型技術，該技術在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現場8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現場直接穿戴。
更新時間:2025-10-15
foncti-630體態(tài)評估系統(tǒng)，是一款集合3d體態(tài)檢測，步態(tài)檢測于一體的智能體測系統(tǒng)。系統(tǒng)采用沿的遠紅外與結構光技術，模擬人體骨骼位置結構，分析肌肉功能狀態(tài)，診斷動態(tài)步態(tài)異常，預測各項健康風險，給予客戶健康評分并為客戶定制完整運動方案。
更新時間:2025-10-15
carebo-810采用國際先進的多頻率生物電阻抗技術進行人體成分準確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數據本身，呈現身體的真實數據，通過獨有的準確測量技術和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務項目。
更新時間:2025-10-15
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數量2304個），以生物力學為基礎，準確采集足底壓力分布數據，能夠根據性別、年齡、身高進行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-10-15
鞋墊機器 足型檢測儀 鞋墊定制3d設備 c1同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術，對用戶的足弓、足態(tài)進行分析與評估，根據分析數據，了解用戶的足部現狀，并作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-10-15
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