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pcie2.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie2.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。

更新時(shí)間:2025-05-15

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Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

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Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。

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Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x16 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車(chē)，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。

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Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie3.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。

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Pcie3.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie3.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

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Pcie3.0x16 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie3.0x16 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真致。如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。

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EMMC 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試

emmc 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤(pán)部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。

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EMMC 時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試

emmc 時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

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EMMC 控制信號(hào)測(cè)試控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試控制信號(hào)高低電平測(cè)試

emmc 控制信號(hào)測(cè)試控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試控制信號(hào)高低電平測(cè)試

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EMMC 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。

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EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試

emmc4 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開(kāi)，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

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Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。

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EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。

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EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。

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EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試

emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。

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EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試

emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。

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電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試

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CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過(guò)程。

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CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試電源紋波測(cè)試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試

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電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

電源紋波測(cè)試時(shí)鐘測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試

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控制信號(hào)測(cè)試控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試

數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開(kāi)始接收 response。

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數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試

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CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試

clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。

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數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試

數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

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I復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試

復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測(cè)試過(guò)程（bus testing procedure），測(cè)試總線硬件上的連通性。

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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試

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MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題

mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題重起問(wèn)題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題重起問(wèn)題

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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：

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KE-2000JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器

商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機(jī)型：juki系列機(jī)型

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該公司產(chǎn)品分類：深圳市鑫鴻基設(shè)備有限公司

土工布透水性測(cè)定儀土工布透水性

運(yùn)用jigaotest系統(tǒng)設(shè)計(jì)研發(fā)的一款用來(lái)檢測(cè)土工合成材料及相關(guān)復(fù)合材料在垂直方向水流透過(guò)率的測(cè)試設(shè)備�！⊥凉げ纪杆詼y(cè)定儀土工布透水性

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該公司產(chǎn)品分類：天津市美特斯試驗(yàn)機(jī)廠

HTSY-B大體積混凝土溫度測(cè)試儀

大體積混凝土溫度測(cè)試儀，該儀器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)大體積混凝土凝固過(guò)程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升，從而可及時(shí)做出應(yīng)對(duì)策略，避免混凝土因溫升造成的開(kāi)裂等嚴(yán)重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域；可對(duì)混凝土內(nèi)部溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),并可通過(guò)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信，實(shí)現(xiàn)了真正意義上的遠(yuǎn)程監(jiān)控。

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該公司產(chǎn)品分類：天津市美特斯試驗(yàn)機(jī)廠

USB2.0出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具

出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具

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該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

　保溫砂漿拉力機(jī)，砂漿拉力機(jī)簡(jiǎn)介，

　　本試驗(yàn)機(jī)適用于測(cè)定各種保溫砂漿的粘結(jié)強(qiáng)度，也可用于符合本試驗(yàn)機(jī)條件的其它試驗(yàn)。液晶顯示、可與微機(jī)連接實(shí)現(xiàn)微機(jī)控制。具有造型美觀，設(shè)計(jì)合理，性能穩(wěn)定，結(jié)構(gòu)緊湊操作方便優(yōu)點(diǎn)。

更新時(shí)間:2025-05-15

該公司產(chǎn)品分類：天津市美特斯試驗(yàn)機(jī)廠

CMT微機(jī)控制電子多功能試驗(yàn)機(jī)，電子多功能試驗(yàn)機(jī)說(shuō)明書(shū)，

主要用于各種保溫材料及金屬、非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲強(qiáng)度等力學(xué)性能測(cè)試和分析研究�？勺詣�(dòng)求取reh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗(yàn)參數(shù)，并可根據(jù)gb、iso、din、astm、jis等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)。

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LSY-1瀝青混凝土斜坡流淌值試驗(yàn)儀，混凝土斜坡流暢試驗(yàn)儀功能，

一、適用范圍：用于測(cè)定瀝青混凝土斜坡流淌值。符合dl/t5362-2006水工瀝青混凝土試驗(yàn)規(guī)程。適用于骨料最大粒徑不大于26.5mm室內(nèi)成型的試件和現(xiàn)場(chǎng)鉆取的芯樣。二、儀器的組成：

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電子多功能試驗(yàn)機(jī)、土工布綜合強(qiáng)力試驗(yàn)機(jī)，土工綜合強(qiáng)力試驗(yàn)儀

主要用于各種土工合成材料及金屬、非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測(cè)試和分析研究�？勺詣�(dòng)求取reh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗(yàn)參數(shù)，并可根據(jù)gb、iso、din、astm、jis等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)。

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炭黑含量測(cè)定儀，黑含量測(cè)定儀參數(shù)，

依據(jù)jtge50-2006公路土工合成材料試驗(yàn)規(guī)程設(shè)計(jì)制造、適用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的測(cè)定。

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土工合成材料垂直滲透儀，土工垂直滲透儀功能，合成材料滲透儀，

依據(jù)sl235-2012土工合成材料垂直滲透系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)設(shè)計(jì)。適用于各類土工材料垂直滲透的測(cè)量，性能穩(wěn)定，方便實(shí)用

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TSY-36土工布CBR頂破試驗(yàn)儀,CBR頂破試驗(yàn)儀，

適用于土工布，土工膜，復(fù)合土工膜，鋼塑格柵，塑料格柵，防排水板，膨潤(rùn)土防水毯等土工合成材料各種強(qiáng)力強(qiáng)度的測(cè)試. 具有液晶顯示、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。

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TSY-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀，塑料薄膜測(cè)定儀參數(shù)，

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

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土工膜脹破強(qiáng)度測(cè)定儀，土工膜破強(qiáng)，度測(cè)定儀

依據(jù)sl/t235-2012土工合成材料測(cè)試規(guī)程土工膜漲破強(qiáng)度的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)設(shè)計(jì)。適用于各類土工膜漲破強(qiáng)度的測(cè)量，性能穩(wěn)定，方便使用。技術(shù)參數(shù)：

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