按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口,本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探
更新時(shí)間:2025-06-23