測繪儀器產品及廠家
map薄膜厚度測繪儀用于測量厚度分布，評價薄膜厚度的均一性，可與所有mproble系列的薄膜測厚儀聯用。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(algaas, ingaas，cdte, cigs)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)map薄膜厚度測繪儀用于測量厚度分布，評價薄膜厚度的均一性，可與所有mproble系列的薄膜測厚儀聯用。
更新時間:2025-12-02
rd8100雷迪管線探測儀原理是：由發(fā)射機產生電磁波并通過不同的發(fā)射連接方式將發(fā)送信號傳送到地下被探測金屬管線上，地下金屬管線感應到電磁波后，在地下金屬管線表面產生感應電流，感應電流就會沿著金屬管線向遠處傳播，在電流的傳播過程中，又會通過該地下金屬管線 向地面輻射出電磁波，這樣當地下管線探測儀接收機在地面探測時，就會在地下金屬管線正上方的地面接收到電磁波信號
更新時間:2025-12-02
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