map薄膜厚度測(cè)繪儀用于測(cè)量厚度分布,評(píng)價(jià)薄膜厚度的均一性,可與所有mproble系列的薄膜測(cè)厚儀聯(lián)用。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)map薄膜厚度測(cè)繪儀用于測(cè)量厚度分布,評(píng)價(jià)薄膜厚度的均一性,可與所有mproble系列的薄膜測(cè)厚儀聯(lián)用。
更新時(shí)間:2025-12-02