激光共聚焦顯微鏡產(chǎn)品及廠家
ns-3500是一種精確、可靠的三維(3d)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(clsm)。通過快速光學(xué)掃描模塊和信號處理算法實現(xiàn)實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結(jié)構(gòu)，如半導(dǎo)體晶片，fpd產(chǎn)品，mems設(shè)備，玻璃基板，材料表面等方面擁有無可比擬的解決方案。
更新時間:2025-12-05
徠卡三維共聚焦干涉顯微鏡dcm8產(chǎn)品特點：leica dcm8采用了*新的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設(shè)計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點的多功能雙核系統(tǒng)。一鍵模式選擇，精密軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位stm-tem低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量。
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)picofemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),同時集成了力學(xué)測量模塊及mems芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學(xué)測量。
更新時間:2025-12-02
picofemto原位mems-stm-tem多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位stm-tem光電一體測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量,
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位stm-tem力電一體測量系統(tǒng)picofemto透射電子顯微鏡原位tem-stm測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
更新時間:2025-12-02
很低維護成本：設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn)，維護成本低；很大的用戶群：在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流；成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò)：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術(shù)支持網(wǎng)點，24小時提供技術(shù)支持。
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位mems氣氛加熱測量系統(tǒng)picofemto透射電鏡原位mems氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 bar & 800 ℃的端觀測條件。
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位mems液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的o圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。芯片電聯(lián)通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學(xué)測試環(huán)境。
更新時間:2025-12-02
picofemto透射電鏡原位mems低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標配mems芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
更新時間:2025-12-02
您可輕松調(diào)用之的顯微鏡設(shè)置并通過獨特的軟件功能“保存和調(diào)用”(store and recall) 即時復(fù)制成像參數(shù)。適用于任何類型的樣本。一鍵式“智能自動化”可讓您輕松搞定重復(fù)性工作。這些具有記憶功能的顯微鏡可幫您減少培訓(xùn)時間、改進工作流程和獲得出色的成像結(jié)果 — 始終如一。
更新時間:2025-12-02
徠卡正置式智能顯微鏡dm6m，全自動數(shù)字顯微鏡系列為用戶提供了很多所未有的解決方案，其中凸出的一點就是幫助用戶簡化顯微鏡的操作，使顯微鏡使用簡單，準確，得心應(yīng)手。智能化的設(shè)計幫助您以簡單的操作完成復(fù)雜的調(diào)節(jié)程序，實現(xiàn)多種多樣的研究及診斷。
更新時間:2025-12-02
徠卡 dm8000 m 提供了全新的光學(xué)設(shè)計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (ouv, 隨檢uv 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產(chǎn)量。該機照明 基于新的 led 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 led的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 后的使用成本
更新時間:2025-12-02
該機照明 基于新的 led 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應(yīng)和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 led的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 后的使用成本.
更新時間:2025-12-02
如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量保證任務(wù)。
更新時間:2025-12-02
您需要一些組件來實現(xiàn)偏光研究目標。以下都是重要的組件：無應(yīng)力光學(xué)部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學(xué)部件led 照明至關(guān)重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉(zhuǎn)臺幫助您對準樣品和光軸您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務(wù)的補償器
更新時間:2025-12-02
如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，偏光顯微鏡將是您的佳選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量保證任務(wù)。令樣品呈現(xiàn)水晶般清晰透亮
更新時間:2025-12-02
徠卡dm750 m是一臺理想地適用于基礎(chǔ)材料應(yīng)用的工業(yè)實驗室或材料科學(xué)的光學(xué)設(shè)備。它的萬能載物臺和反射光系統(tǒng)適合幾乎所有的樣品來獲取高品質(zhì)圖像。
更新時間:2025-12-02
在競爭中保持先是您事業(yè)進的動力。無論您從事金相學(xué)、醫(yī)療設(shè)備制造還是微電子域，速度都顯得至關(guān)重要。您可根據(jù)自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡優(yōu)異的光學(xué)品質(zhì)、豐富的對比度模式以及直觀易用的軟件集于一身，有助于加速您的工作流程。
更新時間:2025-12-02
徠卡dmilm倒置金相顯微鏡可配多種觀察筒,適應(yīng)不同的要求與檢測觀察方式,操作簡單,檢測快捷高效。光學(xué)設(shè)計上采用先進的hcs無限遠軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù)，徹底消除雜散光等干擾因素；整個光學(xué)系統(tǒng)內(nèi), 對涉及成像質(zhì)量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等) 進行優(yōu)化組合，實現(xiàn)圖像分辨率和反差的優(yōu)化，得到銳利圖像的同時追求高分辨率。
更新時間:2025-12-02
徠卡s系列體視顯微鏡包含s9系列體視顯微鏡s9e/s9d/s9i及s apo為了保持競爭力，持續(xù)改進生產(chǎn)、保持低缺陷率以及滿足客戶要求都具挑戰(zhàn)性。徠卡開發(fā)的s系列體視顯微鏡系列可助您戰(zhàn)勝這些挑戰(zhàn)
更新時間:2025-12-02
借助徠卡m80，操作者可以看到大型樣品的預(yù)覽圖，在顯微鏡下舒適工作，輕松采集重要細節(jié)的圖像。利用徠卡 m80的鎖定光圈，可為重復(fù)性任務(wù)創(chuàng)建可追蹤的測量步驟。
更新時間:2025-12-02
徠卡dvm6視頻顯微鏡，也是一款可單手操作的數(shù)碼顯微鏡：攝像頭像素高分辨率高達1000萬，圖像更清晰；16:1的變倍比，更換放大倍率更快；兩個物鏡可覆蓋所有倍率區(qū)間。
更新時間:2025-12-02
emspira 3數(shù)碼顯微鏡在同一個系統(tǒng)中結(jié)合了執(zhí)行全面的目視檢查所需的所有功能，包括比較、測量和文檔共享。使用emspira 3數(shù)碼顯微鏡檢查不同的樣本，快速達到高要求、高通量的目標。 有助高效做出決定，獲益于文檔的安全存儲和輕松分享——無論您以獨立模式還是與計算機相連進行檢查。emspira 3數(shù)碼顯微鏡設(shè)計堅固，您可以在生產(chǎn)和實驗室環(huán)境中充滿信心地注于您的檢查工作。
更新時間:2025-12-02
可容納大樣品尺寸50*50*10mm，可獲得有效切割截面面積>4mm*1mm 三把離子槍，離子束能量1kev-10kev，切割速率150um/h離子束處理過程中樣品位置固定，無需偏轉(zhuǎn)運動，無投影效應(yīng)，熱傳導(dǎo)性好
更新時間:2025-12-02
3d白光干涉共焦顯微鏡，集成共聚焦的橫向分辨率和白光干涉儀的縱向分辨率，可快速、準確的獲取高精度表面三維形貌信息，并進行高精度測量和數(shù)據(jù)分析。
更新時間:2025-12-02
smartproof 5快速轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚焦光學(xué)為基本原理，采用獨創(chuàng)的高速轉(zhuǎn)盤掃描技術(shù)為成像方法，將高分辨率與速度完美結(jié)合在一起，是一款能夠快速提供工業(yè)零部件表面三維輪廓，并可實現(xiàn)非接觸式表面粗糙度測量的精密分析儀器。
更新時間:2025-12-02
μsurf 移動3d共聚焦顯微鏡光學(xué)測量系統(tǒng)是針對大型物體檢測（如軋輥和車身）而研發(fā)的。本系統(tǒng)以穩(wěn)定的的μsurf共聚焦技術(shù)為基礎(chǔ)，因此它適用于嚴苛的生產(chǎn)環(huán)境。全套設(shè)備只有5.5kg，因此可以放在移動式運輸箱里并使用任何汽車進行搬運。到達現(xiàn)場后，這套系統(tǒng)只需要幾分鐘的準備時間就能投入使用。
更新時間:2025-12-02
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當明顯。
更新時間:2025-12-02
nanofocus激光共聚焦顯微鏡是一個表面的精密三維測量分析集于一體的。 µsurf explorer適用于計量測試實驗室以及在生產(chǎn)環(huán)境中使用由于它的堅固性。用共聚焦顯微鏡 µsurf explorer測量快速、簡單的幾步的功能。靈活和用戶友好的光學(xué)測量系統(tǒng)已成功地應(yīng)用于許多公司和行業(yè)的粗糙度測量，根據(jù)iso，測量地形，微觀幾何形狀，層厚度或其他參數(shù)。 µsurf explorer是在汽車行業(yè)，成功部署的醫(yī)療技術(shù)、微電子技術(shù)、造紙和印刷業(yè)、鋼鐵業(yè)、光學(xué)生產(chǎn)。
更新時間:2025-12-02
nanofocus μsurf mobile移動式3d測量系統(tǒng)，適用于對大型樣品的測量，所以可以在很多惡劣的環(huán)境下進行使用，并且不會影響到使用壽命。當人們還在為測量物體太過于龐大而一籌莫展時，μsurf mobile移動式3d測量系統(tǒng)的橫空出世徹底解決了人們的這個困惑，該機臺不需要移動龐大的被測物體，只需要帶著便捷的μsurf mobile，放在被測物體上，就可以在短時間內(nèi)得出精確的三維表面形貌。
更新時間:2025-12-02
μscan共聚焦顯微鏡材料表面的三維輪廓測量，粗糙度測量，寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數(shù)據(jù)分析。能直接測量較大面積的樣品，而不用通過拼接。
更新時間:2025-12-02
植入醫(yī)療器械檢測系統(tǒng)(激光掃描共聚焦顯微鏡)給牙齒植入、導(dǎo)管血管、生物芯片和關(guān)節(jié)植入提供納米級的測量數(shù)據(jù)。μsurf custom系統(tǒng)提供3d表面關(guān)鍵數(shù)據(jù)高解析力和高重復(fù)性精度。該專利非破壞性測量技術(shù)能夠?qū)ν该骰蚋叻垂獗砻孢M行精密測量。所有數(shù)據(jù)都符合iso25178標準。
更新時間:2025-12-02
nanofocus μsurf solar太陽能電池3d激光共聚焦顯微鏡，可以對太陽能電池片進行自動化測量，廣泛適用于單晶、多晶和薄膜太陽能電池片，一分鐘內(nèi)可以自動測量12個區(qū)域，是質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)控制中的最有效的光學(xué)三維表面測量和分析工具？梢赃M行太陽能電池片柵線的3d形貌表征、高寬比測量，制絨后3d形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度、比表面積，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析，以及減反射層腐蝕表面的測量，薄膜小孔的檢測和自動分析。
更新時間:2025-12-02
μsprint全自動晶元檢測系統(tǒng)是專門為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的bump檢測而設(shè)計。最大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。一種探針卡計量過程 控制測試是關(guān)于控制探針和被測器件（dut）之間的機械接觸。確定機械條件是必不可少的一個良好的機械接觸是一個電氣接觸滿足測試要求的預(yù)條件。
更新時間:2025-12-02
德國共聚焦顯微鏡主要功能：該系統(tǒng)通過低能量激光，高性能全自動熒光顯微鏡，掃描共扼聚焦裝置及相關(guān)圖像分析軟件的結(jié)合，具有較高分辨率，性能穩(wěn)定。能對各種方法制備的組織細胞中熒光標記的分子和結(jié)構(gòu)進行“光學(xué)切片” ，形成組織和細胞中熒光標記結(jié)構(gòu)的總體圖像；同時可以進行三維結(jié)構(gòu)和標記強度的半定量分析；也可以通過顯微鏡對活細胞進行自動定時或定位的激光掃描，記錄和研究離子濃度和自由基膜電位ph值的變化，細胞遷移，細胞周期和細胞生長等細胞生物學(xué)現(xiàn)象。能對熒光原位雜交，基因定位和原位實時pcr產(chǎn)物進行分析。
更新時間:2025-12-02
usurf expert是一套為測試以及實驗設(shè)備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)zui高的要求。測量系統(tǒng)配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調(diào)節(jié)以及的人體工學(xué)設(shè)計。
更新時間:2025-12-02
在測試和開發(fā)實驗室，一個范圍廣泛的材料，其獨立的表面性質(zhì)，可以用usurf expert靈活的共聚焦3d顯微鏡測量。隨著自動測量和分析功能，共聚焦顯微鏡也適合于在眾多的測量任務(wù)過程中的質(zhì)量。
更新時間:2025-12-02
usurf expert是一套為測試以及實驗設(shè)備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)zui高的要求。測量系統(tǒng)配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調(diào)節(jié)以及的人體工學(xué)設(shè)計。
更新時間:2025-12-02
usurf expert是一套為測試以及實驗設(shè)備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)zui高的要求。測量系統(tǒng)配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調(diào)節(jié)以及的人體工學(xué)設(shè)計。
更新時間:2025-12-02
usurf expert是一套為測試以及實驗設(shè)備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)zui高的要求。測量系統(tǒng)配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調(diào)節(jié)以及的人體工學(xué)設(shè)計。
更新時間:2025-12-02
usurf expert是一套為測試以及實驗設(shè)備的開發(fā)而優(yōu)化的系統(tǒng)，滿足非接觸性測量行業(yè)內(nèi)zui高的要求。測量系統(tǒng)配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調(diào)節(jié)以及的人體工學(xué)設(shè)計。
更新時間:2025-12-02
μsurf系列用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3d表面形貌、2d的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。 ? 精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件，比如發(fā)動機汽缸、刀口等;
更新時間:2025-12-02
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當明顯。
更新時間:2025-12-02
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 x/y方向，平臺移動范圍：50mmx50mm，馬達驅(qū)動，分辨率：0.3μm
更新時間:2025-12-02
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當明顯。
更新時間:2025-12-02
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當明顯。
更新時間:2025-12-02
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 x/y方向，平臺移動范圍：50mmx50mm，馬達驅(qū)動，分辨率：0.3μm
更新時間:2025-12-02
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當明顯。
更新時間:2025-12-02
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