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薄膜測厚儀產(chǎn)品及廠家

塑料薄膜和薄片測厚儀-薄膜測厚儀-數(shù)字顯示
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
塑料薄膜和薄片測厚儀-測量度
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
薄膜和薄片測厚儀_紙張和紙板測厚儀_測量度
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
塑料薄膜和薄片測厚儀/檢定規(guī)程 厚度儀 薄膜測厚儀
塑料薄膜和薄片測厚儀/檢定規(guī)程 薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
塑料薄膜測厚儀-薄片測厚儀-紙張測厚儀
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
微機控制排水材料平面通水量測定儀 通水量測試儀
微機控制排水材料平面通水量測定儀q/cr549.6通用標準制造 符合標準q/cr549.6-2017 鐵路工程土工合成材料排水材料。本產(chǎn)設(shè)計合理、各項指標均達到設(shè)計要求;適用于測試排水材料平面通水量的測試儀器。
更新時間:2025-09-30
薄膜薄膜TSY-35塑料薄膜和薄片測厚儀
tsy-35塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
TSY-35型塑料薄膜和薄片測厚儀直供
tsy-35型塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試
更新時間:2025-09-30
塑料薄膜和薄片測厚儀直供
tsy-35型塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
數(shù)顯塑料薄膜和薄片測厚儀
數(shù)顯塑料薄膜和薄片測厚儀 薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
MC-2010A涂鍍層測厚儀
濟寧祥和時代檢測儀器有限公司生產(chǎn)涂鍍層測厚儀 : ● 無損測量金屬、塑料、玻璃等材料上的涂層厚度,測量快速精確。 ● 堅固的防靜電、防火金屬外殼。 ● 適合實驗室及工業(yè)現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-09-30
塑料軟包裝膜測厚儀 臺式面接觸薄膜厚度測量儀
塑料軟包裝膜測厚儀 臺式面接觸薄膜厚度測量儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-09-30
TG-37型土工合成材料垂直滲透儀生產(chǎn)
tg-37型土工合成材料垂直滲透儀適用于具有透水性能的各類土工織物和片狀土工合成材料。依據(jù)sl235-2012土工合成材料垂直滲透系數(shù)標準研發(fā)設(shè)計。適用于各類土工材料垂直滲透的測量、性能穩(wěn)定、方便實用。
更新時間:2025-09-30
TG-41型鈉基膨潤土防水毯濾失量生產(chǎn)
tg-41型鈉基膨潤土防水毯濾失量依據(jù)jc/t 593-1995的規(guī)定測試在規(guī)定的試驗條件下懸浮液濾出的濾液毫升數(shù)。
更新時間:2025-09-30
TG-35塑料薄膜和薄片測厚儀生產(chǎn)
tg-35塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試
更新時間:2025-09-30
塑料薄膜和薄片測厚儀-測量范圍-試樣規(guī)格
mtsy-34型 塑料薄膜和薄片測厚儀塑料薄膜和薄片測厚儀-測量范圍-試樣規(guī)格依據(jù)gb/t6672、sl235、dl/t5886設(shè)計制造。適用于塑料土工薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
塑料薄膜測厚儀-薄片測厚儀-片材測厚儀
塑料薄膜和薄片測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試,還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測、試紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-09-30
TG-36土工布CBR頂破試驗儀生產(chǎn)
tg-36土工布cbr頂破試驗儀適用于土工布、土工膜、復(fù)合土工膜、鋼塑格柵,塑料格柵、防排水板、膨潤土防水毯等土工合成材料各種強力強度的測試,具有液晶顯示、操作簡便等優(yōu)點。
更新時間:2025-09-30
TG-38炭黑含量測定儀生產(chǎn)
tg-38 炭黑含量測定儀依據(jù)jtge50-2006公路土工合成材料試驗規(guī)程設(shè)計制造、適用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的測定。炭黑的測試是通過試樣在氮氣保護下,高溫分解后的重量分析得到的。具有使用方便,操作簡單,工作,測量,自動控溫等優(yōu)點。
更新時間:2025-09-30
反射膜厚儀
反射膜厚儀rm 1000和rm 2000反射膜厚儀rm 1000和rm 2000,反射膜厚儀rm 1000/2000具有200nm-930nm的紫外-近紅外光譜范圍。光學(xué)布局為光吞吐量優(yōu)化,以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地測量n和k。精確的高度和傾斜特別適用于精確的單光束反射率測量,且測量非常穩(wěn)定。以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴展到25埃米,從而明確地確定厚度。
更新時間:2025-09-29
顯微薄膜測厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。
更新時間:2025-09-29
薄膜厚度測繪儀
map薄膜厚度測繪儀用于測量厚度分布,評價薄膜厚度的均一性,可與所有mproble系列的薄膜測厚儀聯(lián)用。
更新時間:2025-09-29
薄膜測厚儀
采用近紅外光譜(nir)的薄膜測厚儀,可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(cigs, cdte)可以快速的測量。
更新時間:2025-09-29
薄膜測厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
更新時間:2025-09-29
薄膜測厚儀
mprobe uvvissr薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅,多晶硅),半導(dǎo)體化合物(algaas, ingaas,cdte, cigs),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
更新時間:2025-09-29
日本PEACOCK G型測厚規(guī)  G型厚度表
適用行業(yè):紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測量。
更新時間:2025-09-29
日本孔雀H型測厚規(guī) 厚度計 厚度表
適用行業(yè):紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測量,加長型測臂具有更大的測量深度。
更新時間:2025-09-29
Tester測厚儀
th-104 紙、薄膜厚度測定儀本機是th-101,102系列的數(shù)碼萬分表類型。因為是數(shù)碼類型、自動回零、有抓頭兒等的功能、校正也簡便。根據(jù)選項能打印所需求的數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-09-29
C640機械接觸式測厚儀 塑料膜厚測量儀 包裝膜厚檢測儀
c640機械接觸式測厚儀 塑料膜厚測量儀 包裝膜厚檢測儀是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀,業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量??蛇x配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。
更新時間:2025-09-28
ISO 4593機械接觸式薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀 薄膜厚度儀
iso 4593機械接觸式薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀 薄膜厚度儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀,業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。
更新時間:2025-09-28
C640高精度薄膜測厚儀 薄膜厚度儀 薄膜厚度測量儀
c640高精度薄膜測厚儀 薄膜厚度儀 薄膜厚度測量儀是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀,業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量??蛇x配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。
更新時間:2025-09-28
薄膜厚度測試儀 塑料薄片測厚儀 薄片厚度測量儀
chy-c2a薄膜厚度測試儀 塑料薄片測厚儀 薄片厚度測量儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-09-28
chy-c2a鋰電隔膜測厚儀 電池隔膜厚度測定儀 隔膜厚度檢測儀
chy-c2a鋰電隔膜測厚儀 電池隔膜厚度測定儀 隔膜厚度檢測儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-09-28
隔膜厚度測試儀 隔膜厚度測量儀 接觸式膜厚測定儀C640
隔膜厚度測試儀 隔膜厚度測量儀 接觸式膜厚測定儀c640是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀,業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。
更新時間:2025-09-28
接觸式膜厚測試儀 復(fù)合膜厚度測量儀 復(fù)合膜厚度測試儀
接觸式膜厚測試儀 復(fù)合膜厚度測量儀 復(fù)合膜厚度測試儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-09-28
CHY-C2A硅片厚度測試儀 硅片厚度儀(labthink品牌)
chy-c2a硅片厚度測試儀 硅片厚度儀(labthink品牌)采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-09-28
固體電絕緣體厚度檢測儀 電容器隔薄測厚儀
固體電絕緣體厚度檢測儀 電容器隔薄測厚儀(型號c640)采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
更新時間:2025-09-28
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀
chy-c2a電子薄膜厚度測量儀 pe保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀——采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-09-28
德國folienwerk薄膜PET-G
作為芯膜的對應(yīng)物,這種塑料膜還耐用、耐沖擊且在高溫下穩(wěn)定,可以像 pet-g 覆蓋膜一樣使用。
更新時間:2025-09-27
比利時Hammer-IMS 電池薄膜測厚儀赫爾納供應(yīng)
比利時hammer-ims 電池薄膜測厚儀赫爾納供應(yīng),由赫爾納德國總部直接采購,近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型,為您提供一對一好的解決方案:貨期穩(wěn)定,快速報價,價格優(yōu),設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)。
更新時間:2025-09-27
德國NOWOFLON薄膜NOWOFLON PFA 6515TZ
nowoflon薄膜制品有限公司,總部設(shè)在錫格斯多夫/上巴伐利亞,成立于1971年。由于塑料薄膜的成功,公司在在1984,nowoflon®et薄膜自1994年以來即獲得dan5089b0工業(yè)標準。分離性能和延展性使得隔離膜可以應(yīng)用。
更新時間:2025-09-27
日本Microphase 薄膜應(yīng)力測量儀
采用非接觸mos激光技術(shù);不但可以精確的對樣品表面應(yīng)力分布進行統(tǒng)計分析,而且還可以進行樣品表面二維應(yīng)力、曲率成像分析;并且這種設(shè)計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一頻率運動或掃描,從而有效的避免了外界振動對測試結(jié)果的影響;同時大大提高了測試的分辨率;適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應(yīng)力分析。
更新時間:2025-09-27
日本Microphase 原位薄膜應(yīng)力測量儀  
采用非接觸激光mos技術(shù);不但可以精確的對樣品表面應(yīng)力分布進行統(tǒng)計分析,而且還可以進行樣品表面二維應(yīng)力、曲率成像分析;客戶可自行定義選擇使用任意一個或者一組激光點進行測量;并且這種設(shè)計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一頻率運動或掃描,從而有效的避免了外界振動對測試結(jié)果的影響;同時大大提高了測試的分辨率;適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應(yīng)力分析。
更新時間:2025-09-27
上海祥樹供應(yīng)IFM備件歐洲進口
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司成立于1999年,經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度,公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作,形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應(yīng)鏈體系,竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時間:2025-09-27
上海祥樹供應(yīng)AVL角標儀信號放大器
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司成立于1999年,經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度,公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作,形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應(yīng)鏈體系,竭真探頭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時間:2025-09-27
QJ210A  薄膜延伸率測試儀
薄膜延伸率測試儀實現(xiàn)微機全程控制,可對整個材料5000n以內(nèi)力值的彈性模量、伸長率、壓縮、彎曲、剝離、撕裂、剪切、刺破、低調(diào)疲勞等多項力學(xué)試驗,可根據(jù)國際標準iso.jis.astm.din等國際標準和國外標準進行試驗和提供數(shù)據(jù).以windows操作系統(tǒng)使試驗數(shù)據(jù)曲線動態(tài)顯示,試驗數(shù)據(jù)可以任意刪加,對曲線操作更加簡便.輕松.隨時隨地都可以進行曲線遍歷.疊加.分離.縮放.打印等全電子顯示監(jiān)控.
更新時間:2025-09-26
  普理靈Prolene樣品薄膜-3018
現(xiàn)貨供應(yīng):xrf樣品膜、xrf薄膜、edx樣品膜、edx薄膜、樣品薄膜、x-ray樣品膜、rohs測試膜、x-ray樣品膜、x熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、mylar膜、美國chemplex樣品膜、cat.06、cat.50、cat.no:250、cat.no:256、cat.no:257、cat.no:416、cat.no:426、cat.no:3014樣品膜、sample film。
更新時間:2025-09-26
  普理靈材質(zhì)樣品薄膜-416
現(xiàn)貨供應(yīng):xrf樣品膜、xrf薄膜、edx樣品膜、edx薄膜、樣品薄膜、x-ray樣品膜、rohs測試膜、x-ray樣品膜、x熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、mylar膜、美國chemplex樣品膜、cat.no:106、cat.no:150、cat.no:250、cat.no:256、cat.no:257、cat.no:416、cat.no:426、cat.no:3014樣品膜、sample film。
更新時間:2025-09-26
  美國premier樣品薄膜TF-160-255
現(xiàn)貨供應(yīng):xrf樣品膜、xrf薄膜、edx樣品膜、edx薄膜、樣品薄膜、x-ray樣品膜、rohs測試膜、x-ray樣品膜、x熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、mylar膜、美國premier樣品膜。
更新時間:2025-09-26
  XRF分析薄膜(2.5微米)-100
國chemplex industries有限公司從事樣品前處理設(shè)備、耗材研發(fā)和生產(chǎn)的公司,是x射線光譜儀(xrf)配件耗材領(lǐng)域的廠商。 chemplex xrf樣品杯和樣品膜用于rohs、weee測試儀器盛放小顆粒固體,粉末,液體,適用于各種品牌的x射線熒光光譜儀。chemplex樣品膜薄膜張力特性*佳,與樣品杯組合使用,適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。chemplex的許多xrf樣品杯、樣品薄膜被列為新穎獨特的設(shè)計和應(yīng)用,并被美國商標局授予知識產(chǎn)權(quán)地位。
更新時間:2025-09-26

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