omni多角度粒度與高靈敏度zeta電位分析儀完美結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件pals(phase analysis scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件pals技術(shù)徹底解決了低電泳遷移率體系z(mì)eta電位的精確測(cè)量,是目前市場(chǎng)上功能最強(qiáng)大的粒度與zeta電位分析儀。
更新時(shí)間:2024-12-31